(NIR)近紅外光分析儀-穀物麵粉XT-F│寰宇先進科技

憑藉近紅外線(NIR)的領先專業技術知識，Unity Scientific可用於生產製造過程和實驗室環境中的品質應用控制。包括高性能掃描單色分析儀、直觀的軟體、多種產品的可靠校正標準、快速分析。資料來源：Unity

	SpectraStar XT-F (NIR) 近紅外光分析儀 - 小麥、麵粉及其副產品
	快速檢測麵粉、小麥、及其副產品及成品中的功能性成分。具有更強大的功能，可適應多種應用，檢測多種樣品成份: 水分、油 (脂肪)、蛋白質、灰分、纖維、糖類、澱粉...等。約 30 秒內獲得品質參數。

準確分析麵粉、小麥及其副產品的完整成分 SpectraStar XT-F 專為製粉和烘焙行業設計，是一套完整的分析儀，可在一分鐘內對麵粉、小麥和副產品進行精確分析。分析進廠的小麥品質、監測調質過程、評估技術以確保最佳研磨條件、鑒定原材料等。		久經驗證的技術
		可靠的掃描光譜技術為農產品從育種到加工等整個過程提供高精度的檢測結果符合 ISO 12099 標準。
		操作便捷
		多種數據查看方式 (歷史和曲線圖數據) 便利的樣品數據管理和報告功能直觀的圖形化介面降低操作人員對實驗結果的影響全密閉的外殼和觸控螢幕只需最少的樣品制備一體化且可獨立使用的設計，儀器無需覆雜安裝調試，即插即用，輕鬆應對大部分的分析應用需求。
		生產技術
		驗證成品品質: 水分、油 (脂肪)、蛋白質可額外檢測更多成份: 灰分、糖類、纖維、澱粉...等

應用

優化製粉技術，為烘焙產品鑒定進貨原料

無論您是分析原料品質，確保適當的批量或連續加工條件，還是驗證最終產品的品質或規格要求，SpectraStar XT-F 高級型近紅外分析儀都能完成任務。用於測量各種產品的品質參數，包括：

對麵粉廠的好處	對進廠和調質的小麥進行快速分析，確保穀物達到預期等級。對製粉管粉進行過程測試，提高麵粉產量，並提供準確的數據，以優化等級規格的混合。成品測試確保符合終端用戶的要求。		對烘焙廠的好處	測試來料和加工中的原料的成分和功能特性（吸水率、破損澱粉和流變特性）。確保成分和品質的一致性，從而減少生產問題，提高最終產品的品質。

工作方式

高級樣品管理和報告
SpectraSta XT-F 近紅外分析儀採用掃描單色器技術，可獲得最高的信號品質。這些系統利用近紅外光，精確測量每個波長的吸光度。強大的校正功能將這種光譜信息轉化為多種成分值，而這些成分值是無法通過目視檢查來量化的。這些系統的設計具有靈活性、易用性和速度，因為樣品可以在一分鐘內完成分析。選擇或驗證你的產品類型裝滿你的樣品杯並放在儀器上按開始，結果會在大約 30 秒內顯示出來

校正

SpectraStar XT-F 近紅外分析儀在交付同時具備了用戶所需的校正，以優化製粉過程，並對烘焙食品的來料進行鑒定。為不同檢測需求配置不同的樣品附件和檢量線 :

還可提供單一產品類型、水分、蛋白質和/或油類的額外Unity校正。

軟體

UScan 是Spectrastar XT-F 配套的分析操作軟件 ‧ 具有直觀的圖形界面和強大可靠的SQL數據庫 ‧ 容易上手，1且可提供不受人員影響準確的測量結果

用戶也可以選擇利用 CommUnity 軟體平台，該平台可以實現遠端管理、監控和報告功能，以管理 SpectraStar XT 系列近紅外分析儀的電腦網絡。

規格

準確分析麵粉、小麥及其副產品的完整成分 SpectraStar XT-F 專為製粉和烘焙行業設計，是一套完整的分析儀，可在一分鐘內對麵粉、小麥和副產品進行精確分析。分析進廠的小麥品質、監測調質過程、評估技術以確保最佳研磨條件、鑒定原材料等。		久經驗證的技術
		可靠的掃描光譜技術為農產品從育種到加工等整個過程提供高精度的檢測結果符合 ISO 12099 標準。
		操作便捷
		多種數據查看方式 (歷史和曲線圖數據) 便利的樣品數據管理和報告功能直觀的圖形化介面降低操作人員對實驗結果的影響全密閉的外殼和觸控螢幕只需最少的樣品制備一體化且可獨立使用的設計，儀器無需覆雜安裝調試，即插即用，輕鬆應對大部分的分析應用需求。
		生產技術
		驗證成品品質: 水分、油 (脂肪)、蛋白質可額外檢測更多成份: 灰分、糖類、纖維、澱粉...等

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